V4是一款具有全面測試性能、雙面測、靈活性高的飛針測試系統(tǒng)。它為從多品種及樣品到中小批量測試以及電路板的返修和逆反工程需求的用戶zui理想的解決方案。V4立式的結(jié)構(gòu)設(shè)計包含前后各2個測針，2個附加IC腳開焊測試探頭和2個CCD攝像頭（前后各一個）。系統(tǒng)配置可使V4 真正實現(xiàn)完全的ICT測試，并可對分布在不同面的測試點設(shè)置隔離點從而對電路板進(jìn)行更全面的測試。對IC可使用非矢量測試技術(shù)進(jìn)行上電或不上電的測試。V4占地面積小，可以容易的在任何環(huán)境中使用。它立式緊湊的結(jié)構(gòu)設(shè)計和優(yōu)良的夾板系統(tǒng)可以保證被測板不被抖動以確保測針依次精確的接觸到測點上。
V4的測試工具和技術(shù)性能包括：
• FNODE 對被測板進(jìn)行網(wǎng)絡(luò)節(jié)點波形分析
• 被測板加電后PWMON 網(wǎng)絡(luò)分析
• 非矢量測試（JSCAN和OPENFIX） IC腳開焊和短路測試
• 檢測PCB開路的導(dǎo)通性測試
• 模擬和數(shù)字器件在線測試
• 可選功能測試和光學(xué)檢測，對于一些文件不全或者沒有電路文件的電路板M4可以通過網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)功能重構(gòu)電路結(jié)構(gòu)圖甚至電路原理圖
• 可選熱掃描測試功能
上述所有的測試技術(shù)可以集成到一個單一的測試程序中以達(dá)到zui高的測試覆蓋率和zui大的測試能力V4可以提供一個完全圖形化的軟件系統(tǒng)（RPS模塊） 顯示測試結(jié)果以幫助用戶容易地找到并維修故障點，并可以存儲全部的測試記錄（QSTAT模塊）為用戶提供終端數(shù)據(jù)信息。使用診斷專家軟件系統(tǒng)（DES）可以讓用戶非常容易快速的完成維修工作。V4基于Seica VIP平臺，它包含創(chuàng)新的VIVA軟件，測試程序開發(fā)過程可概括為簡單的三步：準(zhǔn)備、驗證和測試。用戶通過自引導(dǎo)在直觀、一目了然的環(huán)境下進(jìn)行一系列的操作，大大減少編程時間，減少錯誤和遺漏，保證了測試程序的質(zhì)量。針對特殊的應(yīng)用，VIP平臺開放式的結(jié)構(gòu)設(shè)計還可以非常簡便的集成外部軟件和/或硬件模塊，例如RS232,USB口，GPIB和PXI/VXI協(xié)議。 |
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